插回损测试仪集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求，精潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。

基本内容

产品特性

1、整机外观紧凑、美观、实用，指标稳定、可靠，操作简单；

2、电路设计，对大动态范围和微弱信号检测分析处理；

3、插回损采用双液晶显示，有效减轻操作人员视觉疲劳；

4、功率计模块波长与光源模块的波长联动，明显减少操作步骤；

5、的光源接头可拆卸便捷清洁设计并提供全面的功率计接口配置。

技术指标

仪表型号MZ-890光回波损耗测试工作波长1310/1550nm测试范围0,~,75,dB校准波长1310/1550nm测试精度0,25dB输出稳定性0,05dB/小时,(,@,25℃)接口类型FC/APC光插入损耗测试校准波长850/1300/1310/1550nm测试范围+3,~,-80,dBm测试精度0,25dB显示分辨率对数,0,001dB,线性,0,001nw/μW/mW测试模式线形和非线性接口类型活动接口,FC/SC/ST/通用φ2,5mm/通用φ1,25mm等适配器总指标电源AC,90-260V工作温度-5℃～+55℃外观尺寸260X265X140mm重量3kg

产品特点

1）本插回损测试仪的损耗告警设置，不同颜色显示，让操作更加简单便捷，大大提升测试效率；

2）插回损测试仪拥有大屏幕彩色液晶显示，有效减轻操作人员视觉疲劳；

3）此款插回损测试仪精度高、量程宽；

4）光源与功率计模块波长联动，减少操作步骤；

5）光源接头可拆卸设计，便于清洁并提供全面的功率计接口配置；

6）多种测试接口配置；

7）本插回损测试仪带850多模光源，满足测试多模光纤跳线需求；

8）此插回损测试仪电路设计，对大动态范围和微弱信号检测分析处理；

9）回损测试动态范围达75dB，插损及光功率计测试动态范围大（-80dBm～＋3dBm）；

10）整机外观紧凑、美观、实用，指标稳定、可靠，操作简单。

手持式多功能SDH测试仪

产品简介

VePALTX150E为传统的SDH/PDH传输网络在下一步网络中的应用和服务提供全新的测试解决方案，不仅可以用于传统的SDH网络，更是可以扩展支持下一代网络测试。

产品特点

E1,E3,DS1,DS3和E4(选件)的PDH测试

平衡(120Ω)和非平衡(75Ω)的E1接口

为双向监测应用的双E1接收

E1和N,Mx64kbit/s测试

具有Sabit发生的PDH分析

E1,E3和DS3的脉冲波形分析

STM-1,STM-4和STM-16的SDH测试

灵活的波长/速率选项,标准工业SFP光收发模块

光功率,电平和频率测试

图形设置网络类型,比特速率,线路码型,帧结构和测试图案

净负荷映射装载和级联符合ITU-TG.707标准

符合ITU标准的完全比特错误分析

错误和告警的产生和分析

路径轨迹产生和分析

G.783指针测试和分析

APS自动保护开关/服务中断测试

直方图错误和告警统计分析

所有接口和有效载荷映射环路时延测试

发送频率拉偏和接收同步时钟

SOH/POH监测和解码,TCM监测